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一、仪器用途

       偏光热台显微镜系统（偏光熔点测定仪）是地质、矿产、冶金、石油化工、化纤、半导体工业以及药品检验等部门和相关高等院校高分子等专业常用的实验仪器。偏光熔点测定仪可供广大用户作单偏光观察，正交偏光观察，锥光观察以及显微摄影，来观察物体在加热状态下的形变、色变及物体的三态转化。偏光熔点测定仪采用微电脑检测，有自动P、I、D调节，及模糊手动调节功能，偏光熔点测定仪通过LED显示温度值及设定温度值，仪表显示准确、清晰、稳定，对温度控制可设定程序，设有“上、下”限自动报警装置，并可随时检查设定的温度数据，是新一代熔点测温、控温装置。显微镜配置有石膏λ、云母λ/4试片、石英楔子和移动尺等附件。偏光显微镜热台具有可扩展性，可以接计算机和数码相机，对图片进行编辑、保存和打印。偏光熔点测定仪是一组具有较完备功能的新型产品。

二、系统简介
       热台偏光显微镜（偏光熔点测定仪）系统是将光学显微镜技术、光电转换技术、计算机图像处理技术结合在一起而开发研制成功的一项产品。可以在显示屏上很方便地观察实时动态图像，并能将所需要的图片进行编辑、保存和打印。

三、偏光热台简介

       WMP-6508型精密温控加热台是为材料学、生物化学、冶金学、有机化学、高分子及纳米材料学而研制。与光学或电子显微镜配合使用，在微观上观察其溶化、升华、结晶过程中的状态和各种变化和。该仪器采用人性化“傻瓜”设计，自动化程度高，操作简单，技术先进，性能优秀，结构新颖可靠。
       加热台由精密温度控制仪和载物恒温工作台二部分组成，二者由一5芯线缆插口连接， 载物恒温工作台置于光学或电子显微镜载物台上。特别适用配合偏光显微镜构成偏光熔点测量系统。
     仪器特点：
    ●精密温度控制仪显示窗口由上下二排四组数子及文字（英文）组成。上排 ：测量显示组，下排 ：设定显示组
    ●在任何情况下均可根据需要随时改变温度设定。
    ●时间温度曲线为一理想直线,调整升温速度时只改变其斜率。
    ●即刻恒温，在升温过程中的任意时刻按下此扭后,系统立即自动停止升温，并恒温在按下此扭时的即刻温度上。
    

     高精度偏光热台(WRX-1S)参数
    ①恒温范围：室温---400℃, 恒温精度：全范围≤±0.5℅, 恒温系统波动度：±1℃
    ②温度速度：可设置升温速度范围(可调)：0.5---36秒/℃
    升温速度：室温---100℃≤40秒;  升温速度达36秒/℃,达400℃时间：240分钟

    即刻恒温响应时间：≤0.01秒
    ③热台尺寸: 厚度:12mm; 大小:Φ110mm; 高温区: Φ30mm, 通光孔: Φ4mm
    ④热台的外体与高温度采用三根陶瓷分开隔热;在中心温度400℃,室温25℃时,热台外
    体温度≤70℃,热台载物重量：200克
    ⑤热台传感器:高精度的双传感器,连接热台与温控仪

四、系统组成

电脑型偏光热台（WMP-6508C）：1、偏光显微镜 2、热台 3.摄像器(CCD)

数码型偏光热台（WMP-6508D）：1、偏光显微镜 2、热台 3、数码相机系统